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线束综合测试系统

高压线束综合测试系统中压线束综合测试系统低压线束综合测试系统

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SAIMR6000中压综合测试系统任意点位编辑文件可导出入

更新日期：2026-07-06

浏览量：35

中压综合测试系统任意点位编辑文件可导出入支持DC3000V、AC2000V耐压测试，采用二线与四线制混测技术，四线电阻精度达10μΩ，绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构，单卡32测试点，串机可扩展至20000点以上，一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能，可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR6000中压综合测试仪自学习回路快速生成测试文件

更新日期：2026-07-06

浏览量：32

中压综合测试仪自学习回路快速生成测试文件支持DC3000V、AC2000V耐压测试，采用二线与四线制混测技术，四线电阻精度达10μΩ，绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构，单卡32测试点，串机可扩展至20000点以上，一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能，可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR6000中压综合测试系统支持扫码测试定制打印

更新日期：2026-07-06

浏览量：33

中压综合测试系统支持扫码测试定制打印标签支持DC3000V、AC2000V耐压测试，采用二线与四线制混测技术，四线电阻精度达10μΩ，绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构，单卡32测试点，串机可扩展至20000点以上，一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能，可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR6000一站式OS/电阻/绝缘/耐压综合测试系统

更新日期：2026-07-06

浏览量：33

一站式OS/电阻/绝缘/耐压综合测试系统支持DC3000V、AC2000V耐压测试，采用二线与四线制混测技术，四线电阻精度达10μΩ，绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构，单卡32测试点，串机可扩展至20000点以上，一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能，可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR7000中压综合测试仪二/四线制混测高精度

更新日期：2026-07-06

浏览量：29

中压综合测试仪二/四线制混测高精度支持DC3000V、AC2000V耐压测试，采用二线与四线制混测技术，四线电阻精度达10μΩ，绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构，单卡32测试点，串机可扩展至20000点以上，一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能，可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR6000线束综合测试分布式32点/卡串机扩展至2万点

更新日期：2026-07-06

浏览量：42

线束综合测试分布式32点/卡串机扩展至2万点支持DC3000V、AC2000V耐压测试，采用二线与四线制混测技术，四线电阻精度达10μΩ，绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构，单卡32测试点，串机可扩展至20000点以上，一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能，可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR6000中压综合测试系统四线电阻精度10μΩ

更新日期：2026-07-06

浏览量：64

中压综合测试系统四线电阻精度10μΩ 支持DC3000V、AC2000V耐压测试，采用二线与四线制混测技术，四线电阻精度达10μΩ，绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构，单卡32测试点，串机可扩展至20000点以上，一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能，可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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SAIMR60003000V直流 2000V交流耐压测试系统

更新日期：2026-07-06

浏览量：46

3000V直流 2000V交流耐压测试系统支持DC3000V、AC2000V耐压测试，采用二线与四线制混测技术，四线电阻精度达10μΩ，绝缘电阻测试上限50GΩ。系统采用分布式架构，单卡32测试点，串机可扩展至20000点以上，一站式覆盖导通/电阻/绝缘/耐压等全项测试。具备自学习回路、三级权限管理、MES对接及多格式报表导出功能，可适配电池CCS/FPC、线束、连接器等多场景测试需求
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